Основы патентной экспертизы : Учеб. для студентов и слушателей РГИИС / Китайский В.Е. ; Рос. гос. ин-т интеллект. собственности (РГИИС)
Тома: Показать записиЯзык: русский.Выходные данные: М. : Изд-во РГИИС, 2004Физическая характеристика: 21 см.Примечания: На обороте тит. л. авт.: В.Е. Китайский к.т.н., доц..Предметная рубрика - Тема: Авторские заявки на изобретения -- Экспертиза -- Российская Федерация -- Руководства, пособия и т.п | Авторские заявки на изобретения -- Экспертиза -- Российская Федерация -- Учебники для высших учебных заведений | Авторские заявки на полезные модели -- Экспертиза -- Российская Федерация -- Руководства, пособия и т.п | Авторские заявки на полезные модели -- Экспертиза -- Российская Федерация -- Учебники для высших учебных заведений Другие классификации: Х623.410.212я73 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
На обороте тит. л. авт.: В.Е. Китайский к.т.н., доц.