Квалиметрический мониторинг качества фундаментальной подготовки в техническом вузе : монография / Ю.А. Шихов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Исслед. центр пробл. качества подгот. специалистов, Ижев. фил.
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Ижевск : [б.и.], 2007Физическая характеристика: 208 с. : ил. ; 21 см.ISBN: 5-87445-048-3 Библиография: Библиогр.: с. 174-191 (184 назв.).Предметная рубрика - Тема: Квалиметрия в высшем техническом образовании | Высшее техническое образование -- Качество -- Мониторинг Другие классификации: Ч488.712.8 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 2008-3/18000 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1724 | Доступно | 1-1661543 |
Библиогр.: с. 174-191 (184 назв.)