Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; [Пер. с англ. И.Л. Шульпиноой и Т.С. Аргуновой] ; Отв. ред. И. Л. Шульпина
Язык: русский ; оригинала, английский.Выходные данные: СПб. : Наука, С.-Петерб. изд. фирма, 2002Физическая характеристика: 273, [1] с. : ил. ; 25 см.ISBN: 5-02-024963-7 Библиография: Предм. указ.: с. 271-274; Библиогр. в конце разделов.Предметная рубрика - Тема: Электронные приборы -- Материалы -- Рентгеновская дифрактометрия | Электронные приборы -- Материалы -- Рентгеновская топография Неконтролируемые предметные термины: Полупроводниковые соединения - Рентгеноструктурный анализ УДК: 621.38:539.25, 3, rusДругие классификации: ( ) 47 ; ( ) 32.85 ; З85-03-1с383Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Фонд научного зала литературы по технике | Т2 З85/Б-862 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 1-286646 | |||
| Книга | РНБ (Московский) Фонд общего зала литературы по технике | Т1 З85/Б-862 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 1-318201 | |||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2003-7/395 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2615 | Доступно | 1-2518049 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2003-7/395 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2615 | Доступно | 406169 |
исследование структуры материалов электронной техника
Предм. указ.: с. 271-274
Библиогр. в конце разделов