Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие для студентов, обучающихся по направлению подготовки "Прикладная математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С.Л. Баженова с доп. О.В. Егоровой
Другие варианты заглавия: : Методы исследования и контроляЯзык: русский ; оригинала, английский.Выходные данные: Москва : Техносфера, 2006Физическая характеристика: 377 с. : ил., цв. ил. ; 25 см.ISBN: 5-94836-018-0 Серия: Мир материалов и технологий ; 6.02Библиография: Библиогр. в конце гл.; Предм. указ.: с. 376-377.Предметная рубрика - Тема: Материалы -- Микроструктура -- Учебные издания для высших учебных заведений Другие классификации: Ж304я73-1 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2006-7/3534 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1793 | Доступно | 2223945 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2006-7/3534 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1793 | Доступно | 2223946 |
Библиогр. в конце гл.
Предм. указ.: с. 376-377