Оперативная оценка стойкости полупроводниковых изделий к локальным радиационным эффектам : монография / В.Ф. Барабанов, М.Е. Пашковский, С.Л. Подвальный ; М-во образования и науки Рос. Федерации
Язык: русский.Выходные данные: Воронеж : Научная книга, 2012Физическая характеристика: 128 с. : ил. ; 21 см.ISBN: 9785982227751 Библиография: Библиогр.: с. 125-128 (60 назв.).Предметная рубрика - Тема: Полупроводниковые приборы -- Радиационная стойкость Другие классификации: З852-019.8 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Библиогр.: с. 125-128 (60 назв.)