Неразрушающие методы контроля параметров полупроводниковых материалов и структур : учебное пособие для магистров, обучающихся по направлению 21100068 "Конструирование и технология электронных средств" / В. И. Смирнов ; М-во Образования и науки Российской Федерации Ульяновский государственный университет, Ин-т экономики и бизнеса
Язык: русский.Выходные данные: Ульяновск : УлГТУ, 2012 [т.е. 2011]Физическая характеристика: 76 с. : ил. ; 21 см.ISBN: 9785979509426 Примечания: Кн. фактически изд. в 2011 г..Библиография: Библиогр.: с. 75 (14 назв.).Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Параметры -- Измерение -- Неразрушающие методы -- Учебные издания для высших учебных заведений Другие классификации: ( rubbk ) 32.843.3я73 ; З843.306-1-7с.я73-1 Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Кн. фактически изд. в 2011 г.
Библиогр.: с. 75 (14 назв.)