Российская национальная библиография

Описание RUSMARC Карточка
Выпуск

Методы анализа качества микросхем при их производстве : (по данным отеч. и заруб. печати за 1965-1981 гг.) / В.И. Овраченко, В.Е. Севостьянов

Автор: Овчаренко, Валерий Иванович -- АвторАвтор (Альтер.): Севостьянов, Владимир Егорович -- АвторСводное описание: Язык: русский.Выходные данные: 1982, Б. м.Серия: ; Вып.870 Тип экземпляра: Выпуск
Параметры
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Нет реальных экземпляров для этой записи