XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'99, июнь 1999 г. : Тез. докл.
Язык: русский.Выходные данные: Черноголовка : Богород. печатник, 1999Физическая характеристика: 144, [1] с. : ил. ; 21 см.ISBN: 5-89589-010-5 Примечания: На обл.: Российская академия наук - 275 лет; В надзаг.: Рос. акад. наук. Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т пробл. технологии микроэлектрон. и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии.Библиография: Библиогр. в конце докл.; Авт. указ. в конце кн..Предметная рубрика - Тема: Электронная микроскопия растровая -- Съезды, совещания и т.п | Твердые тела -- Исследование -- Аналитические методы -- Съезды, совещания и т.п Другие классификации: В338.48я431 ; В371.2я431 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 99-3/15892 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 61525-10 |
На обл.: Российская академия наук - 275 лет
В надзаг.: Рос. акад. наук. Науч. совет по электрон. микроскопии, Ин-т пробл. технологии микроэлектрон. и особочистых материалов, Ин-т кристаллографии
Библиогр. в конце докл.
Авт. указ. в конце кн.