Методы измерения параметров полупроводников и полупроводниковых структур : учебное пособие; для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 202100 "Нанотехнология в электронике" / Е.С. Анфалова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т)
Язык: русский.Выходные данные: Москва : МИЭТ, 2005Физическая характеристика: 148 с. : ил. ; 20 см.ISBN: 5-7256-0401-2 Библиография: Библиогр.: с. 146 (7 назв.).Предметная рубрика - Тема: Полупроводники многослойные -- Учебные издания для высших учебных заведений -- Параметры -- Измерение | Полупроводники -- Учебные издания для высших учебных заведений -- Параметры -- Измерение Другие классификации: З843.306-1-7с.я73-1 ; З852-016я73-1Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 2006-3/22726 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2071 | Доступно | 2245918 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 2006-3/22726 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2071 | Доступно | 2245919 |
Библиогр.: с. 146 (7 назв.)