Российская национальная библиография

Описание RUSMARC Карточка
Книга

О сверхрешетках плотности дефектов в облученных кристаллах

Автор: Сугаков, Владимир ИосифовичЯзык: русский.Выходные данные: Киев : ИТФ, 1984Физическая характеристика: 30 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; ИТФ-84-70РБиблиография: Библиогр.: с. 24-25 (17 назв.). Тип экземпляра: Книга
Параметры
    Средний рейтинг: 0.0 (0 голосов)
Экземпляры
Тип экземпляра Текущая библиотека Шифр хранения Статус Срок возврата Штрих-код
Книга РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж 84-4/23093 (Просмотр полки(Открывается ниже)) Доступно 1-4334407

Библиогр.: с. 24-25 (17 назв.)