Современные проблемы выходного контроля БИС, СБИС и создания программных и аппаратных средств контрольно-измерительного оборудования для микроэлектроники : (Материалы отрасл. конф., дек. 1988 г.)
ДСП. Экз. № 000015 Язык: русский.Выходные данные: М. : Изд-во ЦНИИ "Электроника", 1988Физическая характеристика: 76 с. ; 20 см.Серия: Тезисы докладов конференции ; Вып. 291Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр. в конце ст..Особенности распространения и использования: ДСП. Экз. № 000015. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П11/2650 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5748890-10 |
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
Библиогр. в конце ст.
ДСП. Экз. № 000015