Возможности метода определения толщины мертвого слоя полупроводникового детектора
Заглавие обложки: : The dead laver thickness of solid-state detectors: possibilities of dicmethod its determination (scientixic-technical report)Язык: русский ; английский.Выходные данные: М. : ИЗМИРАН, 1984Физическая характеристика: 10 с. : ил. ; 21 см.Серия: Препринт ; № 27а (501)Примечания: На обл.: The dead laver thickness of solid-state detectors: possibilities of dicmethod its determination (scientixic-technical report) / Yu.I. Ussikov, V.V. Temny; Текст на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 7. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 85-4/26188 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6080213-10 |
На обл.: The dead laver thickness of solid-state detectors: possibilities of dicmethod its determination (scientixic-technical report) / Yu.I. Ussikov, V.V. Temny
Текст на англ. яз.
Библиогр.: с. 7