Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : [Учеб. пособие для приборостроит. спец. вузов]
Язык: русский.Выходные данные: М. : Энергия, 1980Физическая характеристика: 360 с. : ил. ; 21 см.Библиография: Библиогр.: с. 355 (19 назв.); Предм. указ.: с. 356-357. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 81-3/739 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6419074-10 |
Библиогр.: с. 355 (19 назв.)
Предм. указ.: с. 356-357