Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов : сканирующая зондовая микроскопия; учеб. пособие / С. Е. Александров, А. Б. Спешилова ; Федеральное агентство по образованию, Санкт-Петербургский гос. политехнический ун-т
Язык: русский.Выходные данные: Санкт-Петербург : Изд-во Политехнического ун-та, 2005Физическая характеристика: 83 с. : ил. ; 21 см.Библиография: Библиогр.: с. 79-82 (58 назв.).Предметная рубрика - Тема: Сканирующая микроскопия зондовая -- Учебные издания для высших учебных заведений Неконтролируемые предметные термины: Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия -- Учебник для высшей школы | Техника и технические науки (в целом) -- Материалы. Материаловедение -- Материалы по роду структуры -- Наноматериалы -- Исследование -- Физические методы -- Оптические методы -- Микроскопические методы -- Методы электронной микроскопии -- Учебник для высшей школы | Техника и технические науки (в целом) -- Общая технология. Основы промышленного производства -- Отделка поверхости -- Оборудование -- Учебник для высшей школы Другие классификации: ( rubbk ) В372.15я73-1 ; ( rubbk ) Ж36-1с341.2я73-1 ; ( rubbk ) Ж671-5я73-1 ; В342.84я73-1 Тип экземпляра: КнигаТип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2006-4/32893 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 3097 | Доступно | 2300795 | ||
Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2006-4/32893 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 3097 | Доступно | 2300796 |
Библиогр.: с. 79-82 (58 назв.)