ЭВМ и моделирование дефектов в кристаллах : (Темат. сб.) / АН СССР, Физ.-техн. ин-т им. А.Ф. Иоффе
Язык: русский.Выходные данные: Л. : Б. и., 1982Физическая характеристика: 218 с. : ил. ; 20 см.Библиография: Библиогр. в конце ст.. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 83-3/8555 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6134425-10 |
Библиогр. в конце ст.