ОПТИЧЕСКИЕ методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А₃В₅ : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1975-1989 гг.) / А.В. Бобыль, Г.Д. Варенко, С.А. Евдокимов и др.
Язык: русский.Выходные данные: М. : ЦНИИ "Электроника", 1990Физическая характеристика: 64 с. : ил. ; 21 см.Серия: Обзоры по электронной технике ; Вып. 1572Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр.: с. 56-64. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П51/94 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5529675-10 |
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
Библиогр.: с. 56-64