Радиационные эффекты в интегральных микросхемах и методы испытаний изделий полупроводниковой электроники на радиационную стойкость : [Учеб. пособие] / Э. Н. Вологдин, А. П. Лысенко ; М-во образования Рос. Федерации, Моск. гос. ин-т электроники и математики (техн. ун-т)
Язык: русский.Выходные данные: М. : МИЭМ, 2002Физическая характеристика: 46 с. : ил. ; 21 см.ISBN: 5-94506-021-6 Предметная рубрика - Тема: Полупроводниковые приборы -- Испытание -- Руководства, пособия и т.п. для высшей школы | Полупроводниковые приборы -- Испытание -- Учебные издания для высших учебных заведений | Полупроводниковые приборы -- Радиационная стойкость -- Руководства, пособия и т.п. для высшей школы | Полупроводниковые приборы -- Радиационная стойкость -- Учебные издания для высших учебных заведений | Интегральные схемы -- Радиационные эффекты -- Руководства, пособия и т.п. для высшей школы | Интегральные схемы -- Радиационные эффекты -- Учебные издания для высших учебных заведений Неконтролируемые предметные термины: Микроэлектронные схемы интегральные - Действие ионизирующих излучений | Полупроводниковые приборы - Испытание на радиационную стойкость УДК: 621.38.049.77(075.8), 3, rusДругие классификации: ( rugasnti ) 47 ; ( rubbk ) 32.852я73 ; З844.15-019.8я73-1 ; З852-019.8я73-1 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2003-4/11367 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 789 | Доступно | 494055 |