Надежность микроэлектронных схем и элементов : Сб. науч. тр. / АН УССР, Ин-т полупроводников ; [Отв. ред. М.М. Некрасов, В.Г. Литовченко]
Язык: русский.Выходные данные: Киев : Наукова думка, 1982Физическая характеристика: 207 с. : граф. ; 20 см.Библиография: Библиогр. в конце работ.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 82-3/10289 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6143832-10 |
Библиогр. в конце работ