Новый подход к исследованию кинетики отжига дефектов : (Мат. обеспечение) / Д.К. Даукеев, Ж.Р. Жотабаев, И.В. Хромушин
Язык: русский.Выходные данные: Алма-Ата : ИЯФ, 1986Физическая характеристика: [2], 21 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; 3-86Библиография: Библиогр.: с. 20. Тип экземпляра: КнигаТип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
---|---|---|---|---|---|---|
Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 87-4/11663 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5843948-10 |
Библиогр.: с. 20