Надежность полупроводниковых приборов (мощных СВЧ транзисторов) : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на Семинаре по надежности и прогресс. методам контроля качества продукции) / Всесоюз. о-во "Знание". Политехн. музей. Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР. Всесоюз. совет НТО
Расширенное заглавие: : Надежность полупроводниковых приборов мощных сверхчастотных транзисторовЯзык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1976Физическая характеристика: 46 с. : ил. ; 20 см.Примечания: Перед загл. авт.: А.С. Савина, к. т. н., В.Ф. Синкевич, инж., С,С. Пруслина, инж..Библиография: Библиогр.: с. 41. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж, Хран. | 77-4/23156 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 7308311-10 |
Перед загл. авт.: А.С. Савина, к. т. н., В.Ф. Синкевич, инж., С,С. Пруслина, инж.
Библиогр.: с. 41