Методы измерения электрофизических параметров полупроводников : (Методы измерения рекомбинац. параметров); [Учеб. пособие] / Моск. ин-т электрон. машиностроения
Язык: русский.Выходные данные: М. : МИЭМ, 1986Физическая характеристика: 106 с. : ил. ; 21 см.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 87-3/127 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5864207-10 |