Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках / В.С. Вавилов, А.Е. Кив, О.Р. Ниязова
Язык: русский.Выходные данные: М. : Наука, 1981Физическая характеристика: 368 с. : ил. ; 20 см.Серия: Физика полупроводников и полупроводниковых приборов Библиография: Библиогр.: с. 320-360, 367-368 (30 назв.). Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Фонд научного зала литературы по технике | Нз В379/В-121 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 6 | 1-458559 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 81-3/11580 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 1-342952 |
Библиогр.: с. 320-360, 367-368 (30 назв.)