Производственные методы контроля чистоты деталей ИЭТ : (По данным отеч. и зарубеж. печати за 1962-1988 гг.) / А.Е. Богатырев, Л.И. Шушунова, В.М. Николаев
Язык: русский.Выходные данные: М. : Изд-во ЦНИИ "Электроника", 1989Физическая характеристика: 43 с. ; 21 см.Серия: Обзоры по электронной технике ; Вып. 1432Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр.: с. 39-43. Тип экземпляра: КнигаТип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
---|---|---|---|---|---|---|
Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П51/94 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5568043-10 |
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
Библиогр.: с. 39-43