Методы получения количественной информации в электронной эмиссионной микроскопии / М-во электронной пром-сти СССР. ЦНИИ "Электроника"
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1976Физическая характеристика: 73 с. : ил. ; 22 см.Серия: Обзоры по электронной технике ; Вып. 352Библиография: Библиогр.: с. 64-73.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П51/94 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 7332328-10 |
Библиогр.: с. 64-73