Подробности: Перемежающие и устойчивые отказы в цифровых интегральных микросхемах при воздействии ионизирующего излучения

Книга

Перемежающие и устойчивые отказы в цифровых интегральных микросхемах при воздействии ионизирующего излучения / [Чернышев, А.А., Черпиженко А.З., Борисов Ю.А. и др.]

Автор (Альтер.): Чернышев, Александр АлексеевичЯзык: русский.Выходные данные: М. : Изд-во ЦНИИ "Электроника", 1986Физическая характеристика: 162 с. : ил. ; 22 см.Серия: Зарубежная электронная техника ; № 7 (302)Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр.: с. 162. Тип экземпляра: Книга

Экземпляры
Тип экземпляра	Текущая библиотека	Шифр хранения	Статус	Срок возврата	Штрих-код
Книга	РНБ (Московский) Русский журнальный фонд	П11/2814 (Просмотр полки(Открывается ниже))	Доступно		5881493-10


	П11/2814 ЭЛЕКТРОННАЯ промышленность Японии	П11/2814 НАИВЫСШИЕ параметры основных классов изделий электронной техники, достигнутые к 1988 г.	П11/2814 Системы перпендикулярной магнитной записи	П11/2814 Перемежающие и устойчивые отказы в цифровых интегральных микросхемах при воздействии ионизирующего излучения	П11/2814 Управление свойствами поверхностных слоев в технологии микроэлектроники с помощью лазерного излучения	П11/2814 Дефекты, выход годных и избыточность БИС ЗУ	П11/2814 Микропроцессоры в бытовой технике

В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР

Библиогр.: с. 162