Механизмы отказов и надежность транзисторов на арсениде галлия : (Реф. -аналит. обзор) / [А.М. Нечаев, В.Ф. Синкевич, Е.И. Соколова, Н.В. Степанова]
Язык: русский.Выходные данные: М. : ЦНИИ "Электроника", 1981Физическая характеристика: 42 с. : ил. ; 21 см.Серия: Обзоры по электронной технике ; Вып. 778Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр.: с. 39-42. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П51/94 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6184103-10 |
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
Библиогр.: с. 39-42