Современные тенденции развития и требования к контрольно-измерительному оборудованию для микроэлектроники : Материалы 2 Межотраслевого науч.-техн. семинара, 11-13 мая 1977 г., г. Ереван / [Науч. ред. к. т. н. В.С. Амирбекян]
Язык: русский.Выходные данные: Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978Физическая характеристика: 82 с. ; 21 см.Серия: Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций, совещаний и семинаров по электронной технике ; Вып. 100Примечания: В надзаг.: М-во электрон. пром-сти СССР.Особенности распространения и использования: ДСП. Экз. № 007. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П11/2650 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6493530-10 |
В надзаг.: М-во электрон. пром-сти СССР
ДСП. Экз. № 007