Основы анализа поверхности и тонких пленок / Перевод с англ. В.А. Аркадьева, Л.И. Огнева ; Под ред. В.В. Белошицкого
Язык: русский.Выходные данные: М. : Мир, 1989Физическая характеристика: 342 с. : ил. ; 22 см.ISBN: 5-03-001017-3 Примечания: Перевод изд.: Fundamentals of surface and thin film analysis / By Leonard C. Feldman, James W. Mayer (New York etc., 1986).Библиография: Библиогр. в конце глав; Предм. указ.: с. 333-336. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Фонд научного зала литературы по технике | Нз З844.13/Ф-374 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 6 | 1-374705 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Фонд общего зала литературы по технике | Т1 З844.1/Ф-374 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 1-317799 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 89-5/6886 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 1-4591917 |
Перевод изд.: Fundamentals of surface and thin film analysis / By Leonard C. Feldman, James W. Mayer (New York etc., 1986)
Библиогр. в конце глав
Предм. указ.: с. 333-336