Фотоемкостная спектроскопия глубоких уровней в полупроводниках
Язык: русский.Выходные данные: Новосибирск : ИФП, 1986Физическая характеристика: 46 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; 8-86Библиография: Библиогр.: с. 43-46. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 87-4/15110 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5892839-10 |
Библиогр.: с. 43-46