Методы исследования и контроля чистоты поверхности материалов электронной техники : Учеб. пособие / А.И. Бутурлин, И.Э. Голубская, Ю.Д. Чистяков ; Гос. ком. СССР по нар. образованию, Моск. ин-т электрон. техники
Язык: русский.Выходные данные: М. : МИЭТ, 1989Физическая характеристика: 91 с. : ил. ; 20 см.Библиография: Библиогр.: с. 90. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 89-4/14247 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5593358-10 |
Библиогр.: с. 90