Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества пром. продукции) / В.В. Ведерников, Н.Н. Горюнов, Э.Г. Павлович, А.А. Чернышев ; Под науч. ред. д-ра техн. наук, проф. Б.Е. Бердичевского
Тома: Показать записиЯзык: русский.Выходные данные: Москва : Знание, 1977-Физическая характеристика: 19 см.Примечания: В надзаг.: Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в.Предметная рубрика - Тема: Летательные аппараты -- Радиооборудование -- Надежность | Полупроводниковые приборы -- Надежность Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
В надзаг.: Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в