Физические аспекты качества и надежности интегральных микросхем / С.Н. Деменин, Е.Ф. Доронкин, И.А. Радзиевский
Язык: русский.Выходные данные: Киев : О-во "Знание" УССР, 1980Физическая характеристика: 20 с. : граф. ; 20 см.Серия: Качество и надежность Примечания: В надзаг.: О-во "Знание" УССР.Библиография: Библиогр.: с. 20. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 80-4/9959 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6220203-10 |
В надзаг.: О-во "Знание" УССР
Библиогр.: с. 20