Надежность твердых интегральных схем / И.Е. Ефимов, И.Г. Кальман, В.И. Мартынов
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Изд-во стандартов, 1979Физическая характеристика: 216 с. : ил. ; 21 см.Издание: 2-е изд., испр. и доп.Примечания: Загл. 1-го изд.: Надежность интегральных полупроводниковых схем.Библиография: Библиогр.: с. 210-215 (186 назв.).Другое издание на аналогичном носителе: Надежность интегральных полупроводниковых схемПредметная рубрика - Тема: Микроэлектронные схемы, интегральные, твердые -- Надежность Другие классификации: ( rubbk ) з844.15-021.1,07 ; ( rubbk ) 32.844 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 80-5/1770 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6524089-20 |
Загл. 1-го изд.: Надежность интегральных полупроводниковых схем
Библиогр.: с. 210-215 (186 назв.)