Использование структурных матриц и обобщенных графов при выявлении изобретений : Учеб. пособие / Высш. гос. курсы повышения квалификации руководящих инж.-техн. и науч. работников по вопр. патентования и изобретательства
Язык: русский.Выходные данные: М. : ВНИИПИ, 1991Физическая характеристика: 58, [1] с. : ил. ; 21 см.Издание: : 2-е изд.Примечания: На обл. авт. не указаны.Библиография: Библиогр.: с. 57 (8 назв.). Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 91-6/605 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5319804-10 |
На обл. авт. не указаны
Библиогр.: с. 57 (8 назв.)