Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В.В. Батавин, Ю.А. Концевой, Ю.В. Федорович
Язык: русский.Выходные данные: М. : Радио и связь, 1985Физическая характеристика: 264 с. : ил. ; 20 см.Серия: Измерения в электронике Библиография: Библиогр.: с. 251-262 (189 назв.). Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Фонд общего зала литературы по технике | Т1 З843/Б-280 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 1-277887 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 85-3/6454 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5921924-10 |
Библиогр.: с. 251-262 (189 назв.)