Исследование оптических и магнитооптических свойств полупроводников методом спектральной эллипсометрии
Язык: русский.Выходные данные: Вильнюс : ИФП, 1988Физическая характеристика: 51 с. : ил. ; 20 см.Серия: Препринт ; № 23Примечания: Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр.: с. 46-51. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 88-4/27507 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5661642-10 |
Рез. на англ. яз.
Библиогр.: с. 46-51