Послойный анализ структурного совершенства приповерхностных слоев монокристаллов методом асимптотической брэгговской дифракции / А.М. Афанасьев, П.А. Александров, С.С. Фанченко и др.
Язык: русский.Выходные данные: М. : ИАЭ, 1985Физическая характеристика: 16 с. : ил. ; 21 см.Серия: Препринт ; ИАЭ-4073/9Библиография: Библиогр.: с. 15-16.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 85-6/2574 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6264596-10 |
Библиогр.: с. 15-16