Диагностирование микроэлектронных устройств: модели, тесты, организация : Сб. науч. тр. / АН СССР, Дальневост. отд-ние, Ин-т автоматики и процессов управления ; [Отв. ред. В.П. Чипулис]
Язык: русский.Выходные данные: Владивосток : ДВО АН СССР, 1988 (1989)Физическая характеристика: 180 с. : ил. ; 20 см.Библиография: Библиогр. в конце ст.. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 89-3/6676 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5670558-10 |
Библиогр. в конце ст.