Лазерные методы контроля полупроводниковых материалов и структур : (По данным отеч. и зарубеж. лит. за 1965-1983 гг.) / В.Н. Амазасмян, Е.М. Гамарц, В.А. Крылов и др.
Язык: русский.Выходные данные: М. : ЦНИИ "Электроника", 1984Физическая характеристика: 52 с. : ил. ; 21 см.Серия: Обзоры по электронной технике ; Вып. 1021 [1]Примечания: В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР.Библиография: Библиогр.: с. 45-52. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П51/94 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 5986675-10 |
В надзаг. также: М-во электрон. пром-сти СССР
Библиогр.: с. 45-52