Контроль качества и надежности электронных микросхем по их тепловому излучению с помощью инфракрасной техники / Ин-т точной механики и вычислит. техники АН СССР
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1969Физическая характеристика: 41 с. : ил. ; 22 см.Библиография: Библиогр.: с. 40. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж Хран | 70-6/8755 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 7454516-10 |
Библиогр.: с. 40