К вопросу об учете подложки при квазиоптических методах определения импеданса тонкой проводящей пленки
Язык: русский.Выходные данные: М. : Б. и., 1984Физическая характеристика: [1], 14 с. ; 22 см.Серия: Препринт ; № 266Библиография: Библиогр.: с. 14.Коллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года | 85-4/19445 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6015032-10 |
Библиогр.: с. 14