Дефекты структуры, методы их обнаружения, их влияния на параметры твердотельных приборов : Сб. науч. тр. / Моск. ин-т электрон. техники ; [Редкол.: С.К. Максимов (гл. ред.) и др.]
Язык: русский.Выходные данные: М. : МИЭТ, 1984 (вып. дан. 1985)Физическая характеристика: 109 с. : ил. ; 20 см.Библиография: Библиогр. в конце ст.. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 85-3/10461 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6314276-10 |
Библиогр. в конце ст.