Измерение параметров и характеристик полупроводниковых приборов и интегральных схем : Конспект лекций / В. А. Братов ; М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т)
Язык: русский.Выходные данные: М. : МИЭТ, 1998Физическая характеристика: 98 с. : ил. ; 20 см.ISBN: 5-7256-0181-3 Неконтролируемые предметные термины: Полупроводниковые приборы - параметры - измерение | Микроэлектронные схемы интегральные - параметры - измерение УДК: 621.382.002.56(042.3), 3, rusДругие классификации: ( rugasnti ) 47 ; ( rubbk ) 32.85/86 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 2000-4/7251 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 129383-10 |