Учебное пособие по курсу "Технология и методы исследования структур полупроводниковых материалов : Точеч. дефекты в кристаллах полупроводников / Ред. К.В. Шалимова
Заглавие обложки: : Точечные дефекты в кристаллах полупроводниковЯзык: русский.Выходные данные: М. : МЭИ, 1984Физическая характеристика: 60 с. : ил. ; 20 см.Примечания: Загл. обл.: Точечные дефекты в кристаллах полупроводников; В надзаг.: Моск. энерг. ин-т. Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 85-4/20355 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 6315681-10 |
Загл. обл.: Точечные дефекты в кристаллах полупроводников
В надзаг.: Моск. энерг. ин-т