Сканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света / А. М. Прохоров, Г. Я. Зуева, Н. В. Сережкина и др. ; ...Центр естеств.-науч. исслед.
Язык: русский.Выходные данные: М. : ИОФАН, 2001Физическая характеристика: 15 с. : ил. ; 21 см.Серия: Препринт ; N° 7Библиография: Библиогр.: с. 15.Предметная рубрика - Тема: Микроскопы сканирующие туннельные | Германий -- Поверхностные явления | Кремний -- Поверхностные явления Неконтролируемые предметные термины: Микроскопы туннельные | Полупроводники - Микроскопические исследования УДК: 539.18.073, 3, rusДругие классификации: ( rugasnti ) 29.15 ; ( rubbk ) 22.382 ; З843.322.06-1с3-5 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2003-4/17009 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1427 | Доступно | 545518 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 3этаж | 2003-4/17009 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 1427 | Доступно | 545519 |
Si и Ge поверхн.явления
Библиогр.: с. 15