Физико-химические основы методов анализа чистых металлов и полупроводниковых материалов : Конспект лекций; Ч. 1- / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра производства чистых металлов и полупроводниковых материалов
Тома: Показать записиЯзык: русский.Выходные данные: Москва : Б. и., 1970-Физическая характеристика: 20 см.Примечания: Перед загл. авт.: Л.А. Фирсанова, С.А. Ершова, Н.М. Конышева.Предметная рубрика - Тема: Полупроводники -- Физико-химический анализ | Металлы химические чистые -- Физико-химический анализКоллекция: Национальная библиография Тип экземпляра: КнигаНет реальных экземпляров для этой записи
Перед загл. авт.: Л.А. Фирсанова, С.А. Ершова, Н.М. Конышева