Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов : [Сборник статей] / Под общ. ред. проф. В.П. Короткова
Язык: русский.Выходные данные: Москва : Изд-во стандартов, 1969Физическая характеристика: 165 с. : черт. ; 27 см.Серия: Научно-исследовательский институт метрологии вузов. [Труды] ; Вып. 4Библиография: Библиогр. в конце статей.Предметная рубрика - Тема: Диоды полупроводниковые -- Параметры -- Измерения -- Сборники Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский журнальный фонд | П11/2780 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 7528980-10 |
Библиогр. в конце статей