Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах = Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology) : (Метрология, диагностика, технология); Материалы докл. науч.-техн. семинара (Москва, 17-20 нояб. 1997 г.) / Предисл. А. М. Гуляева, А. С. Врачева
Параллельное заглавие: : Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology), английскийЯзык: русский.Выходные данные: М. : МНТОРЭС, МЭИ, 1998Физическая характеристика: 508 с. : ил. ; 20 см.Примечания: В надзаг.: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. фонд фундам. исслед., М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. энергет. ин-т; Рез. на англ. яз..Библиография: Библиогр. в конце докл..Предметная рубрика - Тема: Полупроводниковые приборы -- Шумы -- Съезды, совещания и т.п | Полупроводники -- Деградация -- Съезды, совещания и т.п Неконтролируемые предметные термины: Полупроводниковые приборы - Шумы | Полупроводниковые приборы - Надежность УДК: 621.382.018.757(043.2), 3, rusДругие классификации: ( rugasnti ) 47 ; ( rubbk ) 32.85/86 ; З841-017.12я431 ; З843.06я431 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 2000-3/18877 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 136619-10 |
В надзаг.: Моск. науч.-техн. о-во радиотехники, электроники и связи им. А. С. Попова, Рос. фонд фундам. исслед., М-во общ. и проф. образования Рос. Федерации, Моск. энергет. ин-т
Рез. на англ. яз.
Библиогр. в конце докл.