Прямое определение плотности электронных состояний N* (EF) из критического поля Hc₂ и удельного сопротивления для Nb₃SN
Язык: русский.Выходные данные: М. : Б. и., 1991Физическая характеристика: 22 с. : граф. ; 20 см.Серия: Препринт ; № 39Библиография: Библиогр.: с. 16-20.Предметная рубрика - Тема: Сверхпроводники -- Критические параметры Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 9этаж | 91-4/16994 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | Доступно | 8758298-10 |
Библиогр.: с. 16-20