Основы сканирующей туннельной наноскопии : учебное пособие / В. Д. Кочаков, Е. А. Ярусов ; М-во образования и науки Российской Федерации, Федеральное агентство по образованию, Федеральное гос. образовательное учреждение высш. проф. образования "Чувашский гос. ун-т им. И. Н. Ульянова"
Язык: русский.Выходные данные: Чебоксары : Изд-во Чувашского университета, 2009Физическая характеристика: 67, [1] с. : ил., табл. ; 20 см.ISBN: 978-5-7677-1385-1 Библиография: Библиогр.: с. 66-67.Предметная рубрика - Тема: Туннельная микроскопия сканирующая -- Учебные издания для высших учебных заведений Неконтролируемые предметные термины: Физико-математические науки -- Физика -- Электричество и магнетизм -- Электронная и ионная оптика -- Электронная и ионная микроскопия -- Учебник для высшей школы | Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел -- Электронная микроскопия -- Учебник для высшей школы Другие классификации: ( rubbk ) В338.28я73-1 ; ( rubbk ) В372.15я73-1 ; В338.48я73-1 Тип экземпляра: Книга| Тип экземпляра | Текущая библиотека | Шифр хранения | Кол-во копий | Статус | Срок возврата | Штрих-код | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 2010-4/9800 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2966 | Доступно | 3215722 | ||
| Книга | РНБ (Московский) Русский книжный фонд: издания с 1957 года, 8этаж | 2010-4/9800 (Просмотр полки(Открывается ниже)) | 2966 | Доступно | 3215723 |
Библиогр.: с. 66-67